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CSK-IIA-1試塊測試方法
CSK-IIA-1試塊測試方法
該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測要求而設(shè)計(jì),適用于將斜探頭、直探頭檢測工件厚度范圍為6mm~200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見下表:
橫波靈敏度的設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭
探頭置于示意圖9中a位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為**點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中b位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為**點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中c位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中d位置,前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中e位置,前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中f位置,前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。
將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。
縱波靈敏度設(shè)定:將選用已校驗(yàn)好的直探頭
置于示意圖9中g(shù)位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為**點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中h位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為**點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中i位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第三點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中j位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第四點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中k位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第五點(diǎn)。
探頭置于示意圖9中L位置,前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到*大反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時(shí)的dB值,此為第六點(diǎn)。
將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線,此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。